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SED-550XYGY1-J
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SED-550XYGY1-J — X-Ray Fluorescence Spectrometer
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SED-550XYGY1-J X-Ray Fluorescence (EDXRF) Spectrometer for RoHS testing of electronic and electrical products. Semiconductor Si-PIN detector (no liquid nitrogen needed), 50 kV / 50 W Mo-target X-ray tube (≥20,000 hour li
Délai de livraison
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Cadence
60–300 s/test
Fonctionnement
Mo-target X-ray tube (0–50 kV, 0–1 mA, 50 W max) excites the sample. Characteristic secondary X-rays from each element are filtered through a 6-position collimator/filter wheel (0.18° stepping) and registered by an electrically cooled Si-PIN detector (1 mil Be window, 6 mm² crystal, 145±5 eV resolution). The integrated i5 industrial PC processes the energy spectrum via CEDXRPPro software, comparing peaks against preset RoHS / halogen / heavy-metal / Samsung / custom limit standards.
Processus de fonctionnement
1Mo-target X-ray tube (0–50 kV, 0–1 mA, 50 W max) excites the sample.
2Characteristic secondary X-rays from each element are filtered through a 6-position collimator/filter wheel (0.18° stepping) and registered by an electrically cooled Si-PIN detector (1 mil Be window, 6 mm² crystal, 145±5 eV resolution).
3The integrated i5 industrial PC processes the energy spectrum via CEDXRPPro software, comparing peaks against preset RoHS / halogen / heavy-metal / Samsung / custom limit standards.
Caractéristiques techniques
Caractéristiques de la variante : SED-550XYGY1-J
Caractéristiques
Modèle
SED-550XYGY1-J
Cadence
60–300 s/test
Tension
AC 110-250V wide voltage
Fluides et énergie
AC 110–250 V wide-voltage; ambient 15–30 °C, humidity ≤75%; no liquid nitrogen required
Détails de conformité
Factory radiation report supplied with each unit; supports RoHS, halogen, eight heavy metals, Samsung corporate standards as preset limit standards
Puissance
0.05 kW
Dimensions
Longueur
450 mm
Largeur
400 mm
Hauteur
360 mm
Poids
38 kg
Emprise au sol
450 × 400 mm desktop footprint, 360 mm height; sample chamber 450 × 380 × 85 mm
Caractéristiques principales
Analytical range S–U (sulfur to uranium)
Si-PIN electrically cooled detector, 145 eV resolution (no liquid nitrogen)
X-ray tube life ≥20,000 hours, Mo target, 50 kV / 50 W
6 collimator spots: 0.3, 1, 3, 5, 6, 8 mm (auto-selected by software)
Test time 60–300 s, software-controlled
8 MP HD positioning camera
22-inch monitor, Intel i5 13th-gen, 8 GB RAM, Windows 10, 256 GB SSD
Sample chamber 450 × 380 × 85 mm; supports solid, liquid and powder
Safety interlock + cover lock for radiation safety
Wide-voltage AC 110–250 V design
Visual stepped X-ray tube aging procedure
USB speaker with audible test-completion prompt
One-click report editing/export (Excel/PDF/list); Chinese-English language switch
Preset limit standards: RoHS, halogens, 8 heavy metals, Samsung, custom
Cover lock added vs. prior generations for compliant radiation safety
US-imported Si-PIN detector for high resolution and accuracy
Modular shielded core components reduce EMI and failure rate
Built-in industrial PC eliminates fragile external cabling
Preset RoHS, halogen, heavy-metal, Samsung and custom limit standards
Plating-thickness modes for Sn/Cu, Au/Ni/Cu, Zn/Fe, Cr/Fe, Ni/CuZn
Ideal for IQC and OQC in 3C electronics, toys, plastic electronics, mobile/digital supply chains
Applications
RoHS heavy-metal screening (Pb, Cd, Hg, Br, Cr)
Halogen detection (Cl, Br)
Eight-heavy-metal screening (Pb, Cd, Hg, As, Cr, Sb, Se, Ba)
Alloy composition (copper, iron, tin alloys; stainless steel, copper alloy full-element)
Electroplating layer thickness (Sn/Cu, Au/Ni/Cu, Zn/Fe, Cr/Fe, Ni/CuZn)
Special plastic-element detection (S, As, Se, Ba, Sn, Sb)
Secteurs
3C electronics
Toys
Plastic electronics
Mobile and digital products
Electroplating
Metal materials
Marques des composants
Si-PIN detector — US imported (Amptek)
X-ray tube — Mo target, 0–50 kV, 1 mA, 50 W
Industrial PC — Intel i5 13th-gen, 8 GB RAM, 256 GB SSD
Software — CEDXRPPro
SED
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Conformité
RoHS testing-capable (factory radiation report supplied)
Documentation
Fiche technique (PDF)
Aperçu de l’équipement, caractéristiques et dimensions · Document d’origine (anglais)
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Manuel opérateur
Installation, fonctionnement et dépannage · Document d’origine (anglais)
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Fiche comparative (Standard et Économique)
Comparaison des configurations · Document d’origine (anglais)
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Protocoles IQ / OQ / PQ
Documentation de validation pour la conformité GMP · Document d’origine (anglais)
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Protocoles FAT / SAT
Essais de réception en usine et sur site · Document d’origine (anglais)
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Plans CAD (STEP / IGES / DWG)
Plans d’ingénierie pour l’implantation · Document d’origine (anglais)
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Certificats d’étalonnage
Niveau sonore, résistance de terre, rigidité diélectrique et rugosité · Document d’origine (anglais)
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DQ (qualification de la conception)
Protocole complet de qualification de la conception · Document d’origine (anglais)
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Certificats matières
Composition de l’acier inoxydable 316L · Document d’origine (anglais)
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