SED-YKJS-X
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SED · SED-YKJS-X · Destacado
SED-YKJS-X — Contador de partículas en líquidos
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SED-YKJS-X liquid particle counter, based on light-scattering and light-extinction principles, uses an 8th-generation dual-laser narrow-beam particle sensor with dual precision flow control. Precisely measures particle s
Plazo de entrega
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Capacidad de producción
5–100 mL/min
Funcionamiento
SED-YKJS-X liquid particle counter, based on light-scattering and light-extinction principles, uses an 8th-generation dual-laser narrow-beam particle sensor with dual precision flow control. Precisely measures particle size and count of fine particles in ultrapure water and organic solvents. Supports both 24 h real-time online monitoring and offline grab sampling to meet diverse monitoring requirements.
Proceso de funcionamiento
1SED-YKJS-X liquid particle counter, based on light-scattering and light-extinction principles, uses an 8th-generation dual-laser narrow-beam particle sensor with dual precision flow control.
2Precisely measures particle size and count of fine particles in ultrapure water and organic solvents.
3Supports both 24 h real-time online monitoring and offline grab sampling to meet diverse monitoring requirements.
Especificaciones técnicas
Especificaciones de la variante: SED-YKJS-X
Especificaciones
Modelo
SED-YKJS-X
Capacidad de producción
5–100 mL/min
Tensión
220V 50Hz 1Φ
Características principales
8th-generation dual-laser narrow-beam particle detection sensor
Light-scattering + light-extinction dual principles
Standard particle sizes 0.1 / 0.2 / 0.3 / 0.5 μm; customizable 0.05-1 μm range
Detection range 0.5-20 μm
Counting efficiency 50%±5% and 100%±5%
False count rate 10 particles/L
Detection time from 5 s, user-definable
Resolution ≥90%
Sampling accuracy ≤±1%
Detection concentration 0-40,000 particles/mL
Sampling flow rate 5-100 mL/min
Pressure range 0-0.5 MPa (without PRV); 0-31.5 MPa (with PRV)
Standard TCP/IP; optional RS232 / RS485 / 4-20 mA
USB / LAN interface
Adjustable inlet pressure for fast cleaning and recovery
Latex-sphere calibration traceable to NIST
Flexible limit alarm settings
Integrated design for low maintenance cost
Supports 24 h online and offline sampling modes
Complete solution for semiconductor process-water monitoring and cleaning-process quality control
High flow rate ensures fast cleaning and recovery time
Real-time trend analysis with limit-based alarms
Standard particle sizes cover 0.1-0.5 μm; customizable to 0.05-1 μm
Aplicaciones
Particle monitoring in semiconductor process water and organic solvents
Filter removal efficiency and membrane integrity monitoring
Municipal water plant effluent monitoring
Steel-plant reclaim water monitoring
Tap water monitoring
Sectores
Electronics & semiconductors
Water treatment
Steel & metals
Municipal water supply
Filter membranes
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Documentación
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Pruebas de aceptación en fábrica y en sitio · Documento original (inglés)
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Planos de ingeniería para la instalación · Documento original (inglés)
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Certificados de calibración
Nivel sonoro, resistencia de tierra, rigidez dieléctrica y rugosidad · Documento original (inglés)
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DQ (cualificación del diseño)
Protocolo completo de cualificación del diseño · Documento original (inglés)
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Certificados de materiales
Composición del acero inoxidable 316L · Documento original (inglés)
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